MIKROSKOPIE TYPU "MODULAČNÍ RELIEFNÍ KONTRAST" (označovaná též jako schlierové zobrazení)

je 150 let starý, takřka zapomenutý vynález (Töpler 1866). Pomocí asymetrické "reliefní" clony (RD) v kondensoru a asymetrického modulátoru (M) těsně nad objektivem je možno dosáhnout tak vysokého obrazového kontrastu, jak je jinak docilován pomocí podstatně složitější a nákladnější mikroskopie diferenciálního interferenčního kontrastu (DIC) podle Nomarského.

Doposud modulační reliefní kontrast fungoval pouze se slabšími objektivy (x20 a méně). Pracujeme na takové modifikaci, která by jeho přednosti umožňovala použít s libovolným objektivem. Je také komplementární k fázově-kontrastní mikroskopii (viz spodní část obrazové tabule), což jsme již dříve ukázali pro jeho jednodušší variantu (standardní reliefní kontrast [off-axis illumination]) nevyžadující modulátor (Pelc et al. 2008).

Společně jsou tyto 2 zobrazovací módy schopny zviditelnit (zobrazit v dostatečně vysokém kontrastu) buněčné struktury jak velmi tenké (filopodie, lamelipodie), tak velmi silné (velké buňky, buněčné klastry), aniž by bylo nutné je jakkoli barvit (Pelc et al. 2014 @ Intnl. Microsc. Congr., Prague).